Development of an AFM-based technique for extended write/erase endurance measurements of memristive cells - Université Savoie Mont Blanc
Communication Dans Un Congrès Année : 2021

Development of an AFM-based technique for extended write/erase endurance measurements of memristive cells

Van Huy Mai
  • Fonction : Auteur
Le Quy Don Technical University
Van Son Nguyen
  • Fonction : Auteur
Institut National de L'Energie Solaire
Pascale Auban Senzier
  • Fonction : Auteur
Laboratoire de Physique des Solides
Claude Pasquier
  • Fonction : Auteur
Laboratoire de Physique des Solides
Kang Wang
  • Fonction : Auteur
Laboratoire de Physique des Solides
Marcelo J Rozenberg
Laboratoire de Physique des Solides
John Giapintzakis
  • Fonction : Auteur
University of Cyprus [Nicosia]
Evripides Kyriakides
  • Fonction : Auteur
University of Cyprus [Nicosia]
Thomas Maroutian
  • Fonction : Auteur
Centre de Nanosciences et de Nanotechnologies
Guillaume Agnus
Centre de Nanosciences et de Nanotechnologies
Philippe Lecoeur
  • Fonction : Auteur
Centre de Nanosciences et de Nanotechnologies
Ngoc Anh Nguyen
  • Fonction : Auteur
Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information
Sami Oukassi
  • Fonction : Auteur
Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information
Raphaël Salot
  • Fonction : Auteur
Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information
David Alamarguy
Laboratoire Génie électrique et électronique de Paris
Pascal Chrétien
Laboratoire Génie électrique et électronique de Paris
CV
Jean- Christophe Lacroix
  • Fonction : Auteur
Interfaces, Traitements, Organisation et Dynamique des Systèmes
Olivier Schneegans
Laboratoire Génie électrique et électronique de Paris

Domaines

Matériaux Micro et nanotechnologies/Microélectronique Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci]
Abstract_AFM_measurements_endurance.pdf (343.05 Ko) Télécharger le fichier
Origine Fichiers produits par l'(les) auteur(s)

Olivier Schneegans  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://centralesupelec.hal.science/hal-03288209

Soumis le : vendredi 16 juillet 2021-11:18:52

Dernière modification le : mercredi 30 octobre 2024-13:27:59

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Dates et versions

hal-03288209 , version 1 (16-07-2021)

Identifiants

  • HAL Id : hal-03288209 , version 1

Citer

Van Huy Mai, Van Son Nguyen, Pascale Auban Senzier, Claude Pasquier, Kang Wang, et al.. Development of an AFM-based technique for extended write/erase endurance measurements of memristive cells. Nanotech France 2021, Jun 2021, Paris (virtual mode), France. ⟨hal-03288209⟩

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